High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers
Springer, 1999
| Campo | Valore |
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| Descrizione | High-resolution x-ray scattering from thin films and multilayers / Holy V., Pietsch U., Baumbach T. - Springer, 1999. - XI+256 |
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| ID scheda | 82833 |
| Permalink | https://www.opac.inaf.it/?ids=82833 |
| Biblioteca | Inv. | Sez. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
|---|---|---|---|---|---|---|
| OAMI | PREG OAMM6589 | Merate | 12/3D | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |