Advanced statistical methods in biometric research
New York : John Wiley & Sons ; London : Chapman & Hall, c1952
| Campo | Valore |
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| Descrizione | Advanced statistical methods in biometric research / C. Radhakrishna Rao. - New York : John Wiley & Sons ; London : Chapman & Hall, c1952. - XVII, 390 p. ; 24 cm |
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| ID scheda | 14857 |
| Permalink | https://www.opac.inaf.it/?ids=14857 |
| Biblioteca | Inv. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
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| OANA | TEMP OANA449 | OAC 01.05.008 | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |