Principles of astrometry : with special emphasis on long-focus photographic astrometry
San Francisco : W.H. Freeman and Company, 1967
| Campo | Valore |
|---|---|
| Descrizione | Principles of astrometry : with special emphasis on long-focus photographic astrometry / Peter Van De Kamp. - San Francisco : W.H. Freeman and Company, 1967. - vii, 227 p. : Ill ; 24 cm. |
| Autori |
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| Classificazione |
Classificazione 1 |
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| ID scheda | 74075 |
| Permalink | https://www.opac.inaf.it/?ids=74075 |
| Biblioteca | Inv. | Sez. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
|---|---|---|---|---|---|---|
| OARM | PREG OARMM007624 | Monteporzio | 522.3/VAN | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |