Study of consistency of T2 files with SD event rate : an attempt to evaluate a source of uncertainty in SD exposure
Torino : CNR - IFSI, 2007
Campo | Valore |
---|---|
Descrizione | Study of consistency of T2 files with SD event rate : an attempt to evaluate a source of uncertainty in SD exposure / P. L. Ghia and I. Lhenry-Yvon. - Torino : CNR - IFSI, 2007. - 17 p. ; 30 cm. - Gap-Note ; 2008-135 |
Specifiche |
|
Collezione |
|
Autori |
|
Paese | |
Lingua | |
ID scheda | 144685 |
Permalink | https://www.opac.inaf.it/?ids=144685 |
Biblioteca | Sez. | Ubi. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
---|---|---|---|---|---|---|
OATO | ex-IFSI | Cantina OATO | CANT_AMM_12/2008 | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |