The uncertainty in the SD exposure due to errors at central trigger level
Torino : CNR - IFSI, 2009
Campo | Valore |
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Descrizione | The uncertainty in the SD exposure due to errors at central trigger level / P. L. Ghia, I. Lhenry-Yvon. - Torino : CNR - IFSI, 2009. - 21 p. ; 30 cm. - GAP-Note ; 2009-092 |
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ID scheda | 144710 |
Permalink | https://www.opac.inaf.it/?ids=144710 |
Biblioteca | Sez. | Ubi. | Collocazione | Prestabilità | Stato | Prenotazioni |
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OATO | ex-IFSI | Cantina OATO | CANT_AMM_10/2009 | Ammesso al prestito | A scaffale | Nessuna |